| Technical Spec | 무선 통신용 프론트엔드 및 반도체 소자의 수명 예측과 고온 동작 수명(HTOL) 시험에서는 다수의 시편에 균일하고 정밀한 고출력 RF 스트레스를 장시간 안정적으로 인가해야 합니다. 기존의 개별 앰프 및 분배기 조합 방식은 경로 간 편차와 복잡한 배선으로 인해 채널별 출력 불균일이 발생하고 시스템 유지보수와 시험 정확도 확보에 한계가 있었습니다. WSDU-1X16P는 20 MHz부터 3000 MHz에 이르는 광대역을 지원하며 단일 저전력 RF 입력만으로 16개 DUT 채널에 채널당 최대 2.5 W의 신호를 안정적으로 공급합니다. 대칭형 신호 경로 설계를 통해 채널 간 출력 편차(전형값 ±1 dB)를 최소화하여 신뢰성 시험의 일관성을 극대화하며, 전면부 모듈 탈착 구조와 앰프 소비 전력 실시간 모니터링 기능으로 유지보수 시간과 다운타임을 획기적으로 단축시킵니다. |
| Applications | 고온 동작 수명(HTOL) RF 신뢰성 시험, 무선 및 셀룰러 프론트엔드 부품 검증, 반도체 및 전자 부품 신뢰성 평가, 신규 설계 및 양산 배치 품질 보증(QA/QC), R&D RF 스트레스 시험 |