| Technical Spec | JEDEC JESD22-A108 등 규격에 따른 고온 동작 수명 시험(HTOL)과 RF 파워 스트레스 테스트는 극한 환경에서 대량의 소자를 장시간 안정적으로 구동하고 모니터링해야 합니다. 기존의 분산형 계측 구성은 장비 설치 면적이 과도하게 소모될 뿐만 아니라, 장시간 구동 시 채널 간 출력 불균일 및 인접 채널 간 간섭으로 인해 특정 소자의 결함이 타 시험 소자에 영향을 주어 시험 신뢰성을 저해하는 한계가 있었습니다. TSQA-16XMF는 컴팩트한 19인치 1U 랙 섀시에 16개의 독립적인 TX 자극 포트와 RX 측정 포트를 통합하여 최신 5G FR1 및 Wi-Fi 6E/7을 포괄하는 300 MHz~8500 MHz 광대역에서 최대 16개 DUT를 동시에 시험합니다. 폐루프 자동 레벨 제어(ALC)를 통해 오버슈트 없는 정밀한 장기 출력 안정성과 채널 간 대칭성을 유지하며, 우수한 포트 간 격리도(-60 dB typ.)와 적응형 고조파 필터를 적용하여 상호 간섭 없는 신뢰도 높은 가속 수명 검증 환경을 구축할 수 있습니다. |
| Applications | RF 반도체 및 부품 HTOL(고온 동작 수명) 신뢰성 시험, 가속 열화 및 파워 스트레스 수명 평가, 이동통신(5G FR1, LTE) 및 무선랜(Wi-Fi 6E/7) 부품 품질 보증 및 R&D 검증 |