| Technical Spec | 반도체 및 무선 프런트엔드 부품의 고온 동작 수명 시험(HTOL, JESD22-A108)은 장시간 고온 및 극한의 RF 전력 스트레스 환경에서 진행되므로, 수많은 채널 간 균일한 출력 유지와 개별 DUT 간 간섭 방지가 필수적입니다. 기존 방식은 케이블 손실에 따른 레벨 불균형, 채널 간 상호 간섭, 장시간 시험 중 출력 드리프트 등으로 인해 정확한 열화 메커니즘을 분석하는 데 한계가 있었습니다. TSQA-80PME는 300MHz~6000MHz 대역에서 최대 80개의 DUT에 채널당 최대 10W(+40dBm)의 고출력 RF 신호를 정밀하게 인가할 수 있는 42U 랙 구성의 전자동 HTOL 시험 시스템입니다. 채널별 자동 레벨 제어(ALC) 루프와 최대 85dB의 우수한 채널 간 격리도를 통해 장기 시험 중에도 안정적인 전력 공급과 신뢰도 높은 측정을 보장합니다. 또한 케이블 손실 자동 계산 및 챔버 배치에 맞춘 좌/우 포트 구성을 통해 전력 손실을 최소화하고 시험 효율을 극대화합니다. |
| Applications | RF 프런트엔드 능동 및 수동 부품 HTOL(고온 동작 수명) 신뢰성 시험, 반도체 가속 수명 시험, 무선 통신 및 5G 소자 품질 보증(QA), 양산 뱃치 검증 및 R&D 신뢰성 평가 |