| Technical Spec | 무선 통신 부품 및 반도체의 장기 신뢰성을 검증하는 고온 동작 수명 시험(HTOL)은 장기간 다수의 시료에 안정적인 고출력 RF 스트레스를 균일하게 인가해야 합니다. 그러나 기존 수동 구성 방식은 다채널 운용 시 케이블 손실 및 장비 드리프트로 인해 채널 간 전력 편차가 발생하기 쉽고, 시료 파손 시 즉각적인 개별 전력 차단과 데이터 로깅이 어려워 시험 효율과 불량 원인 분석의 정확도가 저하되는 한계가 있습니다. TSQA-1X80PM은 20 MHz부터 3000 MHz 대역에서 최대 80개 시료를 채널당 최대 2.5 W로 동시 시험할 수 있는 고밀도 전자동 RF HTOL 시스템입니다. 각 출력 채널에 독립적인 자동 레벨 제어(ALC) 루프와 케이블 손실 자동 계산 기능을 탑재하여 장기 시험 중에도 시료 입력단 기준 ±0.3 dB 수준의 정밀한 레벨 안정성을 유지합니다. 또한 시료의 삽입 손실을 실시간으로 감시하여 기준치 초과 시 불량 시료의 RF 전력을 개별 차단함으로써 신속한 불량 원인 분석을 지원하고 전체 시험 공정의 생산성과 신뢰성을 극대화합니다. |
| Applications | 반도체 및 능동/수동 무선 프론트엔드 부품 HTOL 신뢰성 시험, SAW 필터 및 통신 부품 수명 주기 검증, 신규 설계 및 생산 배치 품질 보증(QA), RF 부품 연구개발(R&D) 가속 수명 시험 |