| Technical Spec | 반도체, SAW/BAW 필터, LTCC 등 고주파 부품의 고온 동작 수명 시험(HTOL)과 가속 수명 시험(SSALT)은 수개월 동안 고온과 고출력 RF 스트레스를 연속 인가해야 하는 정밀한 신뢰성 검증 과정입니다. 기존 다채널 시험 환경에서는 시험 중 특정 시료(DUT)에 불량이 발생할 때 인접 채널로 간섭이 전파되어 연쇄적인 시험 오류를 유발하거나, 장시간 운용 시 온도 변화와 케이블 손실로 인해 실제 시료에 전달되는 전력 레벨이 틀어지는 문제가 빈번했습니다. 또한 제어 루프의 오버슈트나 고조파 성분으로 인해 시료가 규격 외 스트레스를 받아 데이터 신뢰성을 훼손하는 시험 공백이 상존했습니다. TSQA-1X8PME는 300MHz부터 6000MHz까지 5G FR1 대역을 아우르며, 채널당 최대 10W의 출력을 폐루프 자동 레벨 제어(ALC)를 통해 오버슈트 없이 균일하고 정밀하게 공급합니다. 전형적 85dB의 탁월한 포트 간 격리도를 제공하여 단일 시료 고장이 다른 시료 시험에 미치는 영향을 완벽히 차단하며, 적응형 고조파 필터로 순수 기본파 에너지만 집중 인가합니다. 기본 탑재된 내부 CW 신호원과 8개 시료 출력 모니터링용 레벨 검출기를 통해 장비 구성을 단순화하고 장기 무인 자동 시험을 안정적으로 수행할 수 있으며, 19인치 3U 콤팩트 설계를 기반으로 랙 적층 시 최대 80채널(42U)까지 확장 가능해 대규모 배치 시험의 소요 시간과 운영비를 극대화하여 절감합니다. |
| Applications | HTOL(고온 동작 수명 시험), SSALT(스텝 스트레스 가속 수명 시험), 5G FR1 셀룰러 및 무선 프런트엔드 부품 검증, RF 반도체·SAW/BAW 필터·LTCC 세라믹 소자 신뢰성 평가, 신규 설계 검증 및 대량 양산 배치 품질 보증 |